Guía Metodológica de Metrología
Editorial:Instituto Tecnológico Superior JapónLibro de Memorias. Primer Congreso Internacional SIC2020
Editorial:Espinoza Chávez, Carlos EduardoSistema de detección de patrones de fraude con redes neuronales y su incidencia en telefonía celular
Autor:Oviedo Vayas, Byron; Pacheco Paliz, RobertoLas 7 herramientas básicas de la calidad
Autor:Tobar Farías, Galo Wilfrido; Duque Aldaz, Francisco Javier; Pérez Benitez, Hugo Alfredo; Fierro Aguilar, Jaime Patricio; Pazán Gómez, Emma Georgina